扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统

被引:0
申请号
CN202210072624.9
申请日
2022-01-21
公开(公告)号
CN114460448A
公开(公告)日
2022-05-10
发明(设计)人
章其富
申请人
申请人地址
314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区隆兴路118号内主办公楼2129室
IPC主分类号
G01R313185
IPC分类号
代理机构
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
朱磊;浦彩华
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统 [P]. 
章其富 .
中国专利 :CN114460448B ,2025-03-28
[2]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 [P]. 
纪璐璐 .
中国专利 :CN118091387B ,2024-09-10
[3]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 [P]. 
纪璐璐 .
中国专利 :CN118091387A ,2024-05-28
[4]
扫描测试电路 [P]. 
迪米崔·派顿 ;
池其辉 ;
约瑟夫·派翠克·盖斯乐 .
中国专利 :CN102914738A ,2013-02-06
[5]
扫描测试电路 [P]. 
小石川悟 ;
渡边正 .
中国专利 :CN1808159A ,2006-07-26
[6]
边界扫描测试系统及测试方法 [P]. 
朱鸿儒 .
中国专利 :CN101865976A ,2010-10-20
[7]
扫描装置测试系统及测试方法 [P]. 
刘哲 .
中国专利 :CN110779747A ,2020-02-11
[8]
扫描测试系统 [P]. 
彼得·沃尔 ;
约翰·A·威库考斯基 ;
弗瑞德里克·J·纽费克斯 .
中国专利 :CN101821641B ,2010-09-01
[9]
多链边界扫描测试系统及多链边界扫描测试方法 [P]. 
蔡军 ;
王伟国 ;
陈进文 .
中国专利 :CN1516015B ,2004-07-28
[10]
扫描测试系统 [P]. 
彼得·沃尔 ;
约翰·A·威库考斯基 ;
弗瑞德里克·J·纽费克斯 .
中国专利 :CN103018661A ,2013-04-03