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扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统
被引:0
申请号
:
CN202210072624.9
申请日
:
2022-01-21
公开(公告)号
:
CN114460448A
公开(公告)日
:
2022-05-10
发明(设计)人
:
章其富
申请人
:
申请人地址
:
314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区隆兴路118号内主办公楼2129室
IPC主分类号
:
G01R313185
IPC分类号
:
代理机构
:
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
:
朱磊;浦彩华
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20220121
2022-05-10
公开
公开
共 50 条
[1]
扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统
[P].
章其富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯盟科技有限公司
芯盟科技有限公司
章其富
.
中国专利
:CN114460448B
,2025-03-28
[2]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片
[P].
纪璐璐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京芯驰半导体科技股份有限公司
北京芯驰半导体科技股份有限公司
纪璐璐
.
中国专利
:CN118091387B
,2024-09-10
[3]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片
[P].
纪璐璐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京芯驰半导体科技股份有限公司
北京芯驰半导体科技股份有限公司
纪璐璐
.
中国专利
:CN118091387A
,2024-05-28
[4]
扫描测试电路
[P].
迪米崔·派顿
论文数:
0
引用数:
0
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0
迪米崔·派顿
;
池其辉
论文数:
0
引用数:
0
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池其辉
;
约瑟夫·派翠克·盖斯乐
论文数:
0
引用数:
0
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0
约瑟夫·派翠克·盖斯乐
.
中国专利
:CN102914738A
,2013-02-06
[5]
扫描测试电路
[P].
小石川悟
论文数:
0
引用数:
0
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小石川悟
;
渡边正
论文数:
0
引用数:
0
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0
渡边正
.
中国专利
:CN1808159A
,2006-07-26
[6]
边界扫描测试系统及测试方法
[P].
朱鸿儒
论文数:
0
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0
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0
朱鸿儒
.
中国专利
:CN101865976A
,2010-10-20
[7]
扫描装置测试系统及测试方法
[P].
刘哲
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘哲
.
中国专利
:CN110779747A
,2020-02-11
[8]
扫描测试系统
[P].
彼得·沃尔
论文数:
0
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彼得·沃尔
;
约翰·A·威库考斯基
论文数:
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约翰·A·威库考斯基
;
弗瑞德里克·J·纽费克斯
论文数:
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弗瑞德里克·J·纽费克斯
.
中国专利
:CN101821641B
,2010-09-01
[9]
多链边界扫描测试系统及多链边界扫描测试方法
[P].
蔡军
论文数:
0
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蔡军
;
王伟国
论文数:
0
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王伟国
;
陈进文
论文数:
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0
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陈进文
.
中国专利
:CN1516015B
,2004-07-28
[10]
扫描测试系统
[P].
彼得·沃尔
论文数:
0
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彼得·沃尔
;
约翰·A·威库考斯基
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约翰·A·威库考斯基
;
弗瑞德里克·J·纽费克斯
论文数:
0
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0
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弗瑞德里克·J·纽费克斯
.
中国专利
:CN103018661A
,2013-04-03
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