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扫描测试电路

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200510003453.0
申请日：
2005-10-28
公开(公告)号：
CN1808159A
公开(公告)日：
2006-07-26
发明(设计)人：
小石川悟 渡边正
申请人：
申请人地址：
日本国大阪府
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人：
李香兰
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2006-07-26 公开 公开
2008-07-30 发明专利申请公布后的视为撤回 发明专利申请公布后的视为撤回
共 50 条
[1]
扫描测试电路 [P]. 
迪米崔·派顿 ;
池其辉 ;
约瑟夫·派翠克·盖斯乐 .
中国专利 :CN102914738A ,2013-02-06
[2]
扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统 [P]. 
章其富 .
中国专利 :CN114460448A ,2022-05-10
[3]
扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统 [P]. 
章其富 .
中国专利 :CN114460448B ,2025-03-28
[4]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 [P]. 
纪璐璐 .
中国专利 :CN118091387A ,2024-05-28
[5]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 [P]. 
纪璐璐 .
中国专利 :CN118091387B ,2024-09-10
[6]
键盘矩阵扫描测试电路 [P]. 
杨永元 ;
郑玉泉 ;
李佳雄 ;
叶孟力 ;
沈寿明 .
中国专利 :CN217113270U ,2022-08-02
[7]
扫描测试电路、方法以及芯片 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN121091046A ,2025-12-09
[8]
包括扫描测试电路的集成电路器件及其测试方法 [P]. 
郑胜在 ;
金容天 .
中国专利 :CN1519573B ,2004-08-11
[9]
一种扫描链测试电路 [P]. 
董欣 ;
邹杨 .
中国专利 :CN201867469U ,2011-06-15
[10]
一种并行扫描测试电路 [P]. 
杨嵩 ;
巢玮 ;
吴松林 ;
刘杰 ;
唐裕春 ;
郭军 ;
杨凡 .
中国专利 :CN117517928A ,2024-02-06
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