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扫描测试电路、方法以及芯片

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511562983.2
申请日：
2025-10-29
公开(公告)号：
CN121091046A
公开(公告)日：
2025-12-09
发明(设计)人：
请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人：
摩尔线程智能科技（北京）股份有限公司
申请人地址：
100036 北京市海淀区翠微中里14号楼四层B655
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人：
乔改利
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-26 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20251029
2025-12-09 公开 公开
共 50 条
[1]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 [P]. 
纪璐璐 .
中国专利 :CN118091387A ,2024-05-28
[2]
调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 [P]. 
纪璐璐 .
中国专利 :CN118091387B ,2024-09-10
[3]
测试电路、测试方法以及芯片 [P]. 
郭俊男 .
中国专利 :CN120020572A ,2025-05-20
[4]
芯片测试方法、芯片测试电路以及车辆 [P]. 
范学仕 .
中国专利 :CN120446717A ,2025-08-08
[5]
指纹芯片测试电路以及测试方法 [P]. 
刘吉平 ;
于杰 ;
王翔 ;
郑增忠 .
中国专利 :CN117665539A ,2024-03-08
[6]
扫描测试电路、数字芯片、电子设备及功耗降低方法 [P]. 
曾辉 ;
张心标 .
中国专利 :CN117686879A ,2024-03-12
[7]
一种芯片测试电路以及芯片 [P]. 
郑晓光 .
中国专利 :CN117572207A ,2024-02-20
[8]
芯片接口测试方法、电路以及系统 [P]. 
方毅 ;
张慧 ;
罗俊 ;
刘文冬 ;
周春元 ;
高伟 .
中国专利 :CN117991074A ,2024-05-07
[9]
ADC芯片测试电路以及测试设备 [P]. 
李文标 ;
苗书立 ;
刘凯 .
中国专利 :CN217159676U ,2022-08-09
[10]
芯片扫描链测试模式切换电路 [P]. 
李昌盛 ;
易峰 ;
刘杨 ;
张巍 .
中国专利 :CN213069090U ,2021-04-27
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