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芯片扫描链测试模式切换电路
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021656391.X
申请日
:
2020-08-11
公开(公告)号
:
CN213069090U
公开(公告)日
:
2021-04-27
发明(设计)人
:
李昌盛
易峰
刘杨
张巍
申请人
:
申请人地址
:
410000 湖南省长沙市高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼10楼1002-1010室
IPC主分类号
:
G01R313185
IPC分类号
:
代理机构
:
长沙轩荣专利代理有限公司 43235
代理人
:
张勇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-27
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试模式切换电路
[P].
刘杨
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刘杨
;
张巍
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张巍
;
张锋
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张锋
;
吴修英
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吴修英
;
易峰
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易峰
.
中国专利
:CN213069089U
,2021-04-27
[2]
一种高安全性的芯片扫描链测试模式电路及进入方法
[P].
李昌盛
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机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
李昌盛
;
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机构:
黄嵩人
;
李卓
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机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
李卓
;
聂仲武
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机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
聂仲武
;
谢城芳
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机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
谢城芳
.
中国专利
:CN119125859A
,2024-12-13
[3]
扫描链电路及其扫描控制方法、芯片、堆叠芯片
[P].
左丰国
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左丰国
;
刘琦
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刘琦
;
江喜平
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江喜平
.
中国专利
:CN115561614A
,2023-01-03
[4]
升压芯片及其模式切换电路
[P].
黄建刚
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黄建刚
;
程剑涛
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程剑涛
;
王云松
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王云松
;
吴传奎
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吴传奎
;
董渊
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董渊
;
孙洪军
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孙洪军
.
中国专利
:CN209184492U
,2019-07-30
[5]
一种扫描链测试电路
[P].
董欣
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董欣
;
邹杨
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邹杨
.
中国专利
:CN201867469U
,2011-06-15
[6]
一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法
[P].
荣海涛
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荣海涛
;
彭磊
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彭磊
.
中国专利
:CN106291337A
,2017-01-04
[7]
芯片扫描链测试方法和系统
[P].
罗许喜
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罗许喜
;
徐红如
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徐红如
;
刘楷
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刘楷
.
中国专利
:CN111220900A
,2020-06-02
[8]
一种具有扫描链的集成电路和芯片测试方法
[P].
谢武洪
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谢武洪
.
中国专利
:CN102043124A
,2011-05-04
[9]
升压芯片及其模式切换电路
[P].
黄建刚
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黄建刚
;
程剑涛
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程剑涛
;
王云松
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王云松
;
吴传奎
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吴传奎
;
董渊
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董渊
;
孙洪军
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孙洪军
.
中国专利
:CN109617413A
,2019-04-12
[10]
升压芯片及其模式切换电路
[P].
黄建刚
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
黄建刚
;
程剑涛
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
程剑涛
;
王云松
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
王云松
;
吴传奎
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
吴传奎
;
董渊
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
董渊
;
论文数:
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机构:
孙洪军
.
中国专利
:CN109617413B
,2024-03-01
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