芯片扫描链测试模式切换电路

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021656391.X
申请日
2020-08-11
公开(公告)号
CN213069090U
公开(公告)日
2021-04-27
发明(设计)人
李昌盛 易峰 刘杨 张巍
申请人
申请人地址
410000 湖南省长沙市高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼10楼1002-1010室
IPC主分类号
G01R313185
IPC分类号
代理机构
长沙轩荣专利代理有限公司 43235
代理人
张勇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试模式切换电路 [P]. 
刘杨 ;
张巍 ;
张锋 ;
吴修英 ;
易峰 .
中国专利 :CN213069089U ,2021-04-27
[2]
一种高安全性的芯片扫描链测试模式电路及进入方法 [P]. 
李昌盛 ;
黄嵩人 ;
李卓 ;
聂仲武 ;
谢城芳 .
中国专利 :CN119125859A ,2024-12-13
[3]
扫描链电路及其扫描控制方法、芯片、堆叠芯片 [P]. 
左丰国 ;
刘琦 ;
江喜平 .
中国专利 :CN115561614A ,2023-01-03
[4]
升压芯片及其模式切换电路 [P]. 
黄建刚 ;
程剑涛 ;
王云松 ;
吴传奎 ;
董渊 ;
孙洪军 .
中国专利 :CN209184492U ,2019-07-30
[5]
一种扫描链测试电路 [P]. 
董欣 ;
邹杨 .
中国专利 :CN201867469U ,2011-06-15
[6]
一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法 [P]. 
荣海涛 ;
彭磊 .
中国专利 :CN106291337A ,2017-01-04
[7]
芯片扫描链测试方法和系统 [P]. 
罗许喜 ;
徐红如 ;
刘楷 .
中国专利 :CN111220900A ,2020-06-02
[8]
一种具有扫描链的集成电路和芯片测试方法 [P]. 
谢武洪 .
中国专利 :CN102043124A ,2011-05-04
[9]
升压芯片及其模式切换电路 [P]. 
黄建刚 ;
程剑涛 ;
王云松 ;
吴传奎 ;
董渊 ;
孙洪军 .
中国专利 :CN109617413A ,2019-04-12
[10]
升压芯片及其模式切换电路 [P]. 
黄建刚 ;
程剑涛 ;
王云松 ;
吴传奎 ;
董渊 ;
孙洪军 .
中国专利 :CN109617413B ,2024-03-01