一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法

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专利类型
发明
申请号
CN201610591963.2
申请日
2016-07-25
公开(公告)号
CN106291337A
公开(公告)日
2017-01-04
发明(设计)人
荣海涛 彭磊
申请人
申请人地址
100191 北京市海淀区知春路27号量子芯座7层
IPC主分类号
G01R313185
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
汤在彦
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片扫描链测试方法和系统 [P]. 
覃能俊 ;
刘高伟 ;
邱海峰 ;
张炜 .
中国专利 :CN113533936A ,2021-10-22
[2]
一种具有扫描链测试功能的芯片及测试方法 [P]. 
邱远 ;
贾伟 ;
唐明 ;
熊洋 .
中国专利 :CN103033741B ,2013-04-10
[3]
一种高安全性的芯片扫描链测试模式电路及进入方法 [P]. 
李昌盛 ;
黄嵩人 ;
李卓 ;
聂仲武 ;
谢城芳 .
中国专利 :CN119125859A ,2024-12-13
[4]
数字芯片扫描链测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN111337820A ,2020-06-26
[5]
一种降低扫描链测试中移位阶段功耗的方法及电路 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114217212A ,2022-03-22
[6]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN117517938A ,2024-02-06
[7]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN117517938B ,2024-09-24
[8]
一种提升扫描链测试效率的方法、系统和芯片 [P]. 
谭腾飞 .
中国专利 :CN118914813A ,2024-11-08
[9]
一种扫描链测试装置及实现方法 [P]. 
刘小雷 ;
赵红敏 .
中国专利 :CN106707139B ,2017-05-24
[10]
扫描链测试数字逻辑芯片方法、系统及电子设备 [P]. 
王庚 ;
杨伟鹏 .
中国专利 :CN114999562A ,2022-09-02