学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201610591963.2
申请日
:
2016-07-25
公开(公告)号
:
CN106291337A
公开(公告)日
:
2017-01-04
发明(设计)人
:
荣海涛
彭磊
申请人
:
申请人地址
:
100191 北京市海淀区知春路27号量子芯座7层
IPC主分类号
:
G01R313185
IPC分类号
:
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
汤在彦
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-02-01
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101700804902 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利申请号:2016105919632 申请日:20160725
2020-01-07
授权
授权
2017-01-04
公开
公开
共 50 条
[1]
一种芯片扫描链测试方法和系统
[P].
覃能俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
覃能俊
;
刘高伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘高伟
;
邱海峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱海峰
;
张炜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张炜
.
中国专利
:CN113533936A
,2021-10-22
[2]
一种具有扫描链测试功能的芯片及测试方法
[P].
邱远
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱远
;
贾伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贾伟
;
唐明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐明
;
熊洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
熊洋
.
中国专利
:CN103033741B
,2013-04-10
[3]
一种高安全性的芯片扫描链测试模式电路及进入方法
[P].
李昌盛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
李昌盛
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
黄嵩人
;
李卓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
李卓
;
聂仲武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
聂仲武
;
谢城芳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖南进芯电子科技有限公司
湖南进芯电子科技有限公司
谢城芳
.
中国专利
:CN119125859A
,2024-12-13
[4]
数字芯片扫描链测试方法、装置、设备及介质
[P].
周武林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周武林
.
中国专利
:CN111337820A
,2020-06-26
[5]
一种降低扫描链测试中移位阶段功耗的方法及电路
[P].
不公告发明人
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
不公告发明人
.
中国专利
:CN114217212A
,2022-03-22
[6]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质
[P].
成学娇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
海光集成电路设计(北京)有限公司
海光集成电路设计(北京)有限公司
成学娇
;
林耀坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
海光集成电路设计(北京)有限公司
海光集成电路设计(北京)有限公司
林耀坤
;
吴义桂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
海光集成电路设计(北京)有限公司
海光集成电路设计(北京)有限公司
吴义桂
.
中国专利
:CN117517938A
,2024-02-06
[7]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质
[P].
成学娇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
海光集成电路设计(北京)有限公司
海光集成电路设计(北京)有限公司
成学娇
;
林耀坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
海光集成电路设计(北京)有限公司
海光集成电路设计(北京)有限公司
林耀坤
;
吴义桂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
海光集成电路设计(北京)有限公司
海光集成电路设计(北京)有限公司
吴义桂
.
中国专利
:CN117517938B
,2024-09-24
[8]
一种提升扫描链测试效率的方法、系统和芯片
[P].
谭腾飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京芯驰半导体科技股份有限公司
北京芯驰半导体科技股份有限公司
谭腾飞
.
中国专利
:CN118914813A
,2024-11-08
[9]
一种扫描链测试装置及实现方法
[P].
刘小雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘小雷
;
赵红敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵红敏
.
中国专利
:CN106707139B
,2017-05-24
[10]
扫描链测试数字逻辑芯片方法、系统及电子设备
[P].
王庚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王庚
;
杨伟鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨伟鹏
.
中国专利
:CN114999562A
,2022-09-02
←
1
2
3
4
5
→