一种具有扫描链测试功能的芯片及测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN201110295934.9
申请日
2011-09-30
公开(公告)号
CN103033741B
公开(公告)日
2013-04-10
发明(设计)人
邱远 贾伟 唐明 熊洋
申请人
申请人地址
400065 重庆市南岸区黄桷垭堡上园1号
IPC主分类号
G01R313185
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片扫描链测试方法和系统 [P]. 
罗许喜 ;
徐红如 ;
刘楷 .
中国专利 :CN111220900A ,2020-06-02
[2]
一种芯片扫描链测试方法和系统 [P]. 
覃能俊 ;
刘高伟 ;
邱海峰 ;
张炜 .
中国专利 :CN113533936A ,2021-10-22
[3]
数字芯片扫描链测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN111337820A ,2020-06-26
[4]
芯片扫描链测试模式切换电路 [P]. 
李昌盛 ;
易峰 ;
刘杨 ;
张巍 .
中国专利 :CN213069090U ,2021-04-27
[5]
一种提升扫描链测试效率的方法、系统和芯片 [P]. 
谭腾飞 .
中国专利 :CN118914813A ,2024-11-08
[6]
一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法 [P]. 
荣海涛 ;
彭磊 .
中国专利 :CN106291337A ,2017-01-04
[7]
一种具有扫描链的集成电路和芯片测试方法 [P]. 
谢武洪 .
中国专利 :CN102043124A ,2011-05-04
[8]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN117517938A ,2024-02-06
[9]
一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
成学娇 ;
林耀坤 ;
吴义桂 .
中国专利 :CN117517938B ,2024-09-24
[10]
一种芯片扫描测试电路及芯片 [P]. 
马炜华 ;
张浩亮 .
中国专利 :CN115469208B ,2025-07-11