一种紫外LED芯片测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201821514756.8
申请日
2018-09-17
公开(公告)号
CN209342890U
公开(公告)日
2019-09-03
发明(设计)人
黄飞
申请人
申请人地址
224000 江苏省盐城市经济技术开发区漓江路66号光电产业园
IPC主分类号
G01R3144
IPC分类号
G01R3126
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种紫外LED芯片测试装置 [P]. 
黄飞 .
中国专利 :CN109298355B ,2024-10-08
[2]
一种紫外LED芯片测试装置 [P]. 
黄飞 .
中国专利 :CN109298355A ,2019-02-01
[3]
一种LED芯片测试装置 [P]. 
杨良春 ;
赵永峰 .
中国专利 :CN213482379U ,2021-06-18
[4]
一种LED芯片测试装置 [P]. 
蒙旻 ;
朱大江 ;
李平 .
中国专利 :CN210876341U ,2020-06-30
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
陆明 ;
花苗 .
中国专利 :CN220854919U ,2024-04-26
[6]
LED芯片通断测试装置 [P]. 
卢少鹏 .
中国专利 :CN204044283U ,2014-12-24
[7]
一种智慧家电芯片测试装置 [P]. 
谭金 ;
林亚平 ;
范东平 ;
谷朝辉 .
中国专利 :CN221405939U ,2024-07-23
[8]
一种LED芯片的测试装置 [P]. 
李龙 ;
张帅 .
中国专利 :CN213688883U ,2021-07-13
[9]
一种LED芯片推力测试装置 [P]. 
黄章挺 .
中国专利 :CN218211709U ,2023-01-03
[10]
一种LED芯片强度测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN208254977U ,2018-12-18