一种LED芯片测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201921623384.7
申请日
2019-09-27
公开(公告)号
CN210876341U
公开(公告)日
2020-06-30
发明(设计)人
蒙旻 朱大江 李平
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区民治街道民治社区1970科技园9栋401
IPC主分类号
B07C534
IPC分类号
B07C536 G01N1904
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种紫外LED芯片测试装置 [P]. 
黄飞 .
中国专利 :CN209342890U ,2019-09-03
[2]
一种LED芯片测试装置 [P]. 
杨良春 ;
赵永峰 .
中国专利 :CN213482379U ,2021-06-18
[3]
一种LED芯片的测试装置 [P]. 
李龙 ;
张帅 .
中国专利 :CN213688883U ,2021-07-13
[4]
一种LED芯片推力测试装置 [P]. 
黄章挺 .
中国专利 :CN218211709U ,2023-01-03
[5]
一种LED芯片强度测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN208254977U ,2018-12-18
[6]
一种紫外LED芯片测试装置 [P]. 
黄飞 .
中国专利 :CN109298355B ,2024-10-08
[7]
一种LED芯片强度测试装置 [P]. 
马帅 .
中国专利 :CN212059674U ,2020-12-01
[8]
一种紫外LED芯片测试装置 [P]. 
黄飞 .
中国专利 :CN109298355A ,2019-02-01
[9]
一种LED芯片测试装置 [P]. 
彭璐 ;
黄博 ;
王贤洲 ;
吴向龙 ;
徐现刚 .
中国专利 :CN204925329U ,2015-12-30
[10]
LED芯片测试装置 [P]. 
柳炳韶 .
中国专利 :CN102326090B ,2012-01-18