LED芯片测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980157166.1

申请日：

2009-12-24

公开(公告)号：

CN102326090B

公开(公告)日：

2012-01-18

发明(设计)人：

柳炳韶

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3102

代理机构：

北京鸿元知识产权代理有限公司 11327

代理人：

许向彤;林锦辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-12-11	授权	授权
2012-01-18	公开	公开
2012-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101197910571 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2009801571661 申请日:20091224
2020-12-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20091224 授权公告日:20131211 终止日期:20191224

共 50 条

[1]

LED芯片通断测试装置 [P].

卢少鹏 .

中国专利 :CN204044283U ,2014-12-24

[2]

LED芯片老化测试装置 [P].

魏晓敏 .

中国专利 :CN206038837U ,2017-03-22

[3]

一种LED芯片测试装置 [P].

杨良春 ;

赵永峰 .

中国专利 :CN213482379U ,2021-06-18

[4]

一种LED芯片测试装置 [P].

蒙旻 ;

朱大江 ;

李平 .

中国专利 :CN210876341U ,2020-06-30

[5]

一种LED芯片测试装置 [P].

彭璐 ;

黄博 ;

王贤洲 ;

吴向龙 ;

徐现刚 .

中国专利 :CN204925329U ,2015-12-30

[6]

芯片测试装置 [P].

彭浪 .

中国专利 :CN221007786U ,2024-05-24

[7]

芯片测试装置 [P].

冯永辉 ;

江怡贤 ;

涂致逸 .

中国专利 :CN101354413A ,2009-01-28

[8]

芯片测试装置及芯片 [P].

彭日强 ;

张宏达 ;

李凯泽 ;

张士涛 ;

郑晓 .

中国专利 :CN222259504U ,2024-12-27

[9]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[10]

芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

孙浩涛 ;

尹文芹 ;

贾红 ;

程显志 ;

陈维新 ;

韦嶔 .

中国专利 :CN109307833A ,2019-02-05

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