LED芯片老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201590000164.2

申请日：

2015-10-02

公开(公告)号：

CN206038837U

公开(公告)日：

2017-03-22

发明(设计)人：

魏晓敏

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区莲花北23栋705

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20151002 授权公告日:20170322 终止日期:20181002
2017-03-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种LED芯片老化测试装置 [P].

邓锡康 ;

刘洪 ;

李玟烨 ;

谭智豪 ;

李本亮 ;

陈伟权 ;

黎锡文 .

中国专利 :CN222506496U ,2025-02-18

[2]

芯片老化测试装置 [P].

刘冬喜 ;

陈宽勇 .

中国专利 :CN307276790S ,2022-04-19

[3]

芯片老化测试装置 [P].

袁飞 ;

杨晓君 ;

柳胜杰 ;

史久聪 ;

陈华玉 .

中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28

[4]

芯片老化测试装置 [P].

郭航旗 ;

请求不公布姓名 ;

张敦凯 ;

请求不公布姓名 ;

薛阿强 ;

陈宗熙 ;

郑颖彬 ;

李国军 ;

张文宗 .

中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09

[5]

芯片老化测试装置 [P].

张洪利 .

中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12

[6]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009B ,2025-08-22

[7]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009A ,2025-06-20

[8]

LED老化测试装置 [P].

邓自然 ;

王书方 .

中国专利 :CN108508341A ,2018-09-07

[9]

LED老化测试装置 [P].

张丽敏 ;

朱昕 ;

陈金华 ;

张国芳 ;

叶俊贤 ;

张超 ;

麦文杰 .

中国专利 :CN117538792A ,2024-02-09

[10]

LED芯片测试装置 [P].

柳炳韶 .

中国专利 :CN102326090B ,2012-01-18

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