芯片老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421227259.5

申请日：

2024-05-30

公开(公告)号：

CN222850709U

公开(公告)日：

2025-05-09

发明(设计)人：

郭航旗请求不公布姓名张敦凯请求不公布姓名薛阿强陈宗熙郑颖彬李国军张文宗

申请人：

深圳宏芯宇电子股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

范伟民

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-09	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片老化测试装置 [P].

耿林茹 ;

李娜 .

中国专利 :CN215180686U ,2021-12-14

[2]

一种芯片老化测试装置 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575511U ,2022-01-18

[3]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009B ,2025-08-22

[4]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009A ,2025-06-20

[5]

一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置 [P].

贾一凡 ;

邓亚楼 ;

廖振伟 .

中国专利 :CN119780675A ,2025-04-08

[6]

一种芯片的老化测试装置 [P].

廉哲 ;

陈华杰 ;

张来阳 ;

李帆 ;

赵山 .

中国专利 :CN117805586A ,2024-04-02

[7]

芯片老化测试装置 [P].

刘冬喜 ;

陈宽勇 .

中国专利 :CN307276790S ,2022-04-19

[8]

芯片老化测试装置 [P].

袁飞 ;

杨晓君 ;

柳胜杰 ;

史久聪 ;

陈华玉 .

中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28

[9]

芯片老化测试装置 [P].

张洪利 .

中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12

[10]

一种三端LDO芯片老化测试装置 [P].

黄硕 ;

吕程 .

中国专利 :CN223501118U ,2025-10-31

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