一种芯片的老化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311857363.2

申请日：

2023-12-29

公开(公告)号：

CN117805586A

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

廉哲陈华杰张来阳李帆赵山

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391

代理人：

赵云秀

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	公开	公开
2024-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231229

共 50 条

[1]

一种芯片老化测试装置 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575511U ,2022-01-18

[2]

一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置 [P].

贾一凡 ;

邓亚楼 ;

廖振伟 .

中国专利 :CN119780675A ,2025-04-08

[3]

芯片老化测试装置 [P].

郭航旗 ;

请求不公布姓名 ;

张敦凯 ;

请求不公布姓名 ;

薛阿强 ;

陈宗熙 ;

郑颖彬 ;

李国军 ;

张文宗 .

中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09

[4]

一种芯片老化测试装置 [P].

耿林茹 ;

李娜 .

中国专利 :CN215180686U ,2021-12-14

[5]

一种三端LDO芯片老化测试装置 [P].

黄硕 ;

吕程 .

中国专利 :CN223501118U ,2025-10-31

[6]

一种芯片老化测试装置 [P].

林欣毅 .

中国专利 :CN207742298U ,2018-08-17

[7]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009B ,2025-08-22

[8]

一种芯片老化测试装置 [P].

韩洋洋 ;

刘居蒙 ;

陶克文 .

中国专利 :CN118483560B ,2025-04-04

[9]

一种芯片老化测试装置 [P].

韩洋洋 ;

刘居蒙 ;

陶克文 .

中国专利 :CN118483560A ,2024-08-13

[10]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009A ,2025-06-20

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