一种芯片老化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410948642.8

申请日：

2024-07-16

公开(公告)号：

CN118483560B

公开(公告)日：

2025-04-04

发明(设计)人：

韩洋洋刘居蒙陶克文

申请人：

上海泽丰半导体科技有限公司

申请人地址：

201306 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区翠波路201、221号1幢4层404室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

H05K7/20 F25D31/00 G01R1/02

代理机构：

北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718

代理人：

黄贞君

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240716
2024-08-13	公开	公开
2025-04-04	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片老化测试装置 [P].

韩洋洋 ;

刘居蒙 ;

陶克文 .

中国专利 :CN118483560A ,2024-08-13

[2]

一种芯片老化测试装置 [P].

林欣毅 .

中国专利 :CN207742298U ,2018-08-17

[3]

一种芯片的老化测试装置 [P].

廉哲 ;

陈华杰 ;

张来阳 ;

李帆 ;

赵山 .

中国专利 :CN117805586A ,2024-04-02

[4]

芯片老化测试装置 [P].

刘冬喜 ;

陈宽勇 .

中国专利 :CN307276790S ,2022-04-19

[5]

芯片老化测试装置 [P].

袁飞 ;

杨晓君 ;

柳胜杰 ;

史久聪 ;

陈华玉 .

中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28

[6]

芯片老化测试装置 [P].

郭航旗 ;

请求不公布姓名 ;

张敦凯 ;

请求不公布姓名 ;

薛阿强 ;

陈宗熙 ;

郑颖彬 ;

李国军 ;

张文宗 .

中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09

[7]

芯片老化测试装置 [P].

张洪利 .

中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12

[8]

一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置 [P].

贾一凡 ;

邓亚楼 ;

廖振伟 .

中国专利 :CN119780675A ,2025-04-08

[9]

一种芯片老化测试装置 [P].

耿林茹 ;

李娜 .

中国专利 :CN215180686U ,2021-12-14

[10]

一种芯片老化测试装置 [P].

王少花 .

中国专利 :CN214703883U ,2021-11-12

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