学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411952588.0
申请日：
2024-12-27
公开(公告)号：
CN119780675A
公开(公告)日：
2025-04-08
发明(设计)人：
贾一凡 邓亚楼 廖振伟
申请人：
西安紫光国芯半导体股份有限公司
申请人地址：
710075 陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
F24H3/04 F24H9/20 F24H15/25 F24H15/37 F28D19/04 G01R1/02 G01R1/04 G05D23/20
代理机构：
西安佩腾特知识产权代理事务所(普通合伙) 61226
代理人：
张倩
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 常州市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241227
2025-04-08 公开 公开
共 50 条
[1]
芯片老化测试装置 [P]. 
郭航旗 ;
请求不公布姓名 ;
张敦凯 ;
请求不公布姓名 ;
薛阿强 ;
陈宗熙 ;
郑颖彬 ;
李国军 ;
张文宗 .
中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09
[2]
芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P]. 
王强 ;
金云飞 .
中国专利 :CN120178009B ,2025-08-22
[3]
芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P]. 
王强 ;
金云飞 .
中国专利 :CN120178009A ,2025-06-20
[4]
一种芯片的老化测试装置 [P]. 
廉哲 ;
陈华杰 ;
张来阳 ;
李帆 ;
赵山 .
中国专利 :CN117805586A ,2024-04-02
[5]
一种芯片老化测试装置 [P]. 
耿林茹 ;
李娜 .
中国专利 :CN215180686U ,2021-12-14
[6]
一种芯片老化测试装置 [P]. 
黄哲尔 ;
沈义明 ;
韦宗专 .
中国专利 :CN215575511U ,2022-01-18
[7]
芯片老化测试设备 [P]. 
李康海 ;
陈庆辉 ;
黄炜胜 ;
柴鹏辉 ;
范王蒙 .
中国专利 :CN223426805U ,2025-10-10
[8]
一种芯片测试及老化测试装置 [P]. 
王永安 .
中国专利 :CN207937530U ,2018-10-02
[9]
芯片老化测试装置 [P]. 
刘冬喜 ;
陈宽勇 .
中国专利 :CN307276790S ,2022-04-19
[10]
芯片老化测试装置 [P]. 
袁飞 ;
杨晓君 ;
柳胜杰 ;
史久聪 ;
陈华玉 .
中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28
12345