一种芯片老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121550815.9

申请日：

2021-07-08

公开(公告)号：

CN215180686U

公开(公告)日：

2021-12-14

发明(设计)人：

耿林茹李娜

申请人：

申请人地址：

050000 河北省石家庄市鹿泉区鹿岛V谷科技工业园11-12号厂房

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司 11212

代理人：

刘希豪

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-14	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片老化测试装置 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575511U ,2022-01-18

[2]

芯片老化测试装置 [P].

郭航旗 ;

请求不公布姓名 ;

张敦凯 ;

请求不公布姓名 ;

薛阿强 ;

陈宗熙 ;

郑颖彬 ;

李国军 ;

张文宗 .

中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09

[3]

一种芯片的老化测试装置 [P].

廉哲 ;

陈华杰 ;

张来阳 ;

李帆 ;

赵山 .

中国专利 :CN117805586A ,2024-04-02

[4]

一种三端LDO芯片老化测试装置 [P].

黄硕 ;

吕程 .

中国专利 :CN223501118U ,2025-10-31

[5]

一种用于芯片老化测试的均温装置及芯片老化测试装置 [P].

贾一凡 ;

邓亚楼 ;

廖振伟 .

中国专利 :CN119780675A ,2025-04-08

[6]

一种芯片测试及老化测试装置 [P].

王永安 .

中国专利 :CN207937530U ,2018-10-02

[7]

一种集成电路芯片老化测试装置 [P].

颜俊奇 ;

颜俊杰 ;

颜俊玲 ;

颜俊燕 ;

杨少娜 ;

陈志杰 .

中国专利 :CN220671581U ,2024-03-26

[8]

一种芯片老化测试系统 [P].

马云龙 ;

程莹 .

中国专利 :CN217787292U ,2022-11-11

[9]

芯片老化测试装置 [P].

袁飞 ;

杨晓君 ;

柳胜杰 ;

史久聪 ;

陈华玉 .

中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28

[10]

芯片老化测试装置 [P].

张洪利 .

中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12

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