一种芯片测试及老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820211238.2

申请日：

2018-02-07

公开(公告)号：

CN207937530U

公开(公告)日：

2018-10-02

发明(设计)人：

王永安

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区祖冲之路1505弄55号1楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

上海沪慧律师事务所 31311

代理人：

朱九皋

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片老化测试装置 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575511U ,2022-01-18

[2]

芯片老化测试装置 [P].

张洪利 .

中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12

[3]

一种芯片老化测试装置 [P].

耿林茹 ;

李娜 .

中国专利 :CN215180686U ,2021-12-14

[4]

一种芯片老化测试装置 [P].

唐雄华 ;

宋薇薇 .

中国专利 :CN217385719U ,2022-09-06

[5]

一种芯片老化测试装置 [P].

王永安 .

中国专利 :CN208224436U ,2018-12-11

[6]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009B ,2025-08-22

[7]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009A ,2025-06-20

[8]

芯片老化测试装置 [P].

袁飞 ;

杨晓君 ;

柳胜杰 ;

史久聪 ;

陈华玉 .

中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28

[9]

芯片老化测试装置 [P].

郭航旗 ;

请求不公布姓名 ;

张敦凯 ;

请求不公布姓名 ;

薛阿强 ;

陈宗熙 ;

郑颖彬 ;

李国军 ;

张文宗 .

中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09

[10]

风道机构及芯片老化测试装置 [P].

李康海 ;

叶一风 ;

祁鹏鹏 ;

郭友智 .

中国专利 :CN220367383U ,2024-01-19

← 1 2 3 4 5 →