共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种芯片老化测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120811898.6
申请日：
2021-04-20
公开(公告)号：
CN214703883U
公开(公告)日：
2021-11-12
发明(设计)人：
王少花
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华新区大浪街道华宁路（西）恒昌荣星辉科技工业园第C栋第5层西边
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526
代理人：
李捷
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-11-12 | 授权 | 授权 |