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一种芯片的老化测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201920602039.9
申请日：
2019-04-28
公开(公告)号：
CN210401575U
公开(公告)日：
2020-04-24
发明(设计)人：
林先海
高峰
许祥滨
申请人：
申请人地址：
510000 广东省广州市经济技术开发区科学城彩频路11号A401
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人：
黄志云
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-04-24 | 授权 | 授权 |