一种大截面大厚度红外玻璃内部缺陷检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510644476.3
申请日
2015-10-08
公开(公告)号
CN105158277B
公开(公告)日
2015-12-16
发明(设计)人
吴礼刚
申请人
申请人地址
315040 浙江省宁波市学士路298号裙楼3楼308室
IPC主分类号
G01N21958
IPC分类号
代理机构
浙江素豪律师事务所 33248
代理人
邱积权
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种大截面大厚度红外玻璃内部缺陷检测装置 [P]. 
吴礼刚 .
中国专利 :CN205080072U ,2016-03-09
[2]
一种红外玻璃内部宏观缺陷检测装置 [P]. 
吴礼刚 ;
李祖盼 ;
戴世勋 ;
宋宝安 ;
沈祥 ;
黄国松 ;
徐铁锋 ;
聂秋华 ;
张巍 .
中国专利 :CN102175690A ,2011-09-07
[3]
一种红外玻璃内部缺陷和残余应力检测装置及检测方法 [P]. 
聂秋华 ;
徐铁锋 ;
戴世勋 ;
宋宝安 ;
王训四 ;
沈祥 ;
林常规 ;
吴礼刚 ;
张巍 ;
黄国松 .
中国专利 :CN102226771A ,2011-10-26
[4]
一种玻璃内部缺陷检测装置 [P]. 
刘柱 ;
王修璞 ;
闫飞 ;
朱登宝 ;
卓婷 .
中国专利 :CN218470581U ,2023-02-10
[5]
一种红外硫系玻璃内部宏观缺陷成像检测装置 [P]. 
吴礼刚 ;
戴世勋 ;
李祖盼 ;
王训四 ;
宋宝安 ;
沈祥 ;
黄国松 ;
徐铁锋 ;
聂秋华 .
中国专利 :CN102323275A ,2012-01-18
[6]
红外玻璃内在缺陷检测装置 [P]. 
艾明富 ;
张祖义 ;
于天来 ;
刘小宁 ;
胡斌 ;
胡童 ;
刘怀虎 .
中国专利 :CN212780574U ,2021-03-23
[7]
检测半导体材料内部缺陷的红外装置 [P]. 
王琼 .
中国专利 :CN210015055U ,2020-02-04
[8]
检测半导体材料内部缺陷的红外装置 [P]. 
李亚文 ;
姬荣斌 ;
赵增林 ;
莫玉东 ;
卢德明 ;
朱颖峰 .
中国专利 :CN2791639Y ,2006-06-28
[9]
一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测装置 [P]. 
夏珉 ;
刘行思 ;
刘念 ;
唐世镇 ;
夏楠卿 .
中国专利 :CN110044931A ,2019-07-23
[10]
一种玻璃基板的内部缺陷在线检测装置 [P]. 
姚云峰 .
中国专利 :CN111208151B ,2020-05-29