半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811352853.6
申请日
2018-11-14
公开(公告)号
CN111192828A
公开(公告)日
2020-05-22
发明(设计)人
夏泽坤 王远
申请人
申请人地址
300380 天津市西青区西青经济开发区兴华道19号
IPC主分类号
H01L21336
IPC分类号
H01L2978
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
高静;李丽
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王耀庭 ;
许凯 ;
高大为 ;
吴永玉 .
中国专利 :CN119342882B ,2025-12-02
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
田武 ;
汪宗武 ;
许文山 ;
孙超 .
中国专利 :CN108630535B ,2024-04-02
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王耀庭 ;
许凯 ;
高大为 ;
吴永玉 .
中国专利 :CN119342882A ,2025-01-21
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
田武 ;
汪宗武 ;
许文山 ;
孙超 .
中国专利 :CN108630535A ,2018-10-09
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
田武 ;
汪宗武 ;
许文山 ;
孙超 .
中国专利 :CN118299257A ,2024-07-05
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
盛丽萍 ;
吴永玉 .
中国专利 :CN119521711A ,2025-02-25
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
韩秋华 ;
纪世良 .
中国专利 :CN114388442B ,2025-08-19
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
孟德旭 ;
徐杰 ;
李志国 .
中国专利 :CN121126784A ,2025-12-12
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN109860291B ,2019-06-07
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
杨波 .
中国专利 :CN112864096B ,2021-05-28