高反光物体三维面型测量方法和测量设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010876920.5

申请日：

2020-08-27

公开(公告)号：

CN112097670B

公开(公告)日：

2020-12-18

发明(设计)人：

李锋刘玉红郭小芳周斌斌臧利年李超张勇停汪平

申请人：

申请人地址：

212003 江苏省镇江市梦溪路2号

IPC主分类号：

G01B1122

IPC分类号：

代理机构：

南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204

代理人：

常虹

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-11	授权	授权
2021-01-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/22 申请日:20200827
2020-12-18	公开	公开

共 50 条

[1]

三维测量设备和三维测量方法 [P].

高林志几 .

中国专利 :CN102954770A ,2013-03-06

[2]

基于多光束自适应互补匹配的高反光物体三维测量方法 [P].

薛俊鹏 ;

宋泽宇 ;

王齐明 ;

张启灿 ;

刘元坤 .

中国专利 :CN113108721A ,2021-07-13

[3]

强反光物体的三维测量方法及相关设备 [P].

范俊峰 ;

付一宸 ;

景奉水 ;

马云开 ;

周超 ;

谭民 .

中国专利 :CN120800260A ,2025-10-17

[4]

三维测量系统和三维测量方法 [P].

田村仁 ;

山形智生 ;

栗原健人 ;

外川阳一 .

中国专利 :CN113330277B ,2021-08-31

[5]

跟踪式三维测量系统和三维测量方法 [P].

王江峰 ;

王健宇 ;

杨小福 ;

陈尚俭 ;

郑俊 .

中国专利 :CN117346681A ,2024-01-05

[6]

基于GPU的物体三维面形测量方法 [P].

陈楚文 ;

李中伟 ;

赵恒爽 ;

何睿杰 ;

朱晓辉 ;

郭恭林 ;

何家进 .

中国专利 :CN103335611B ,2013-10-02

[7]

反光物体的三维测量方法、装置及终端设备 [P].

唐苏明 ;

谷飞飞 ;

宋展 .

中国专利 :CN112082508B ,2020-12-15

[8]

物体三维轮廓测量装置及测量方法 [P].

张军 ;

周常河 ;

贾伟 ;

武腾飞 .

中国专利 :CN101451826B ,2009-06-10

[9]

反光物体表面的三维测量系统及其测量方法和存储介质 [P].

吴伟锋 ;

王国安 ;

王明毅 ;

陈晓铭 ;

彭粤龙 .

中国专利 :CN114001668B ,2022-02-01

[10]

三维物体测量方法及其测量装置 [P].

廖怀宝 .

中国专利 :CN103047944A ,2013-04-17

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