强反光物体的三维测量方法及相关设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510884233.0

申请日：

2025-06-27

公开(公告)号：

CN120800260A

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

范俊峰付一宸景奉水马云开周超谭民

申请人：

中国科学院自动化研究所

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村东路95号

IPC主分类号：

G01B11/25

IPC分类号：

G06T7/246 G06T17/00 G01B11/00

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

王兆赓;苏银虹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/25申请日:20250627
2025-10-17	公开	公开

共 50 条

[1]

反光物体的三维测量方法、装置及终端设备 [P].

唐苏明 ;

谷飞飞 ;

宋展 .

中国专利 :CN112082508B ,2020-12-15

[2]

高反光物体三维面型测量方法和测量设备 [P].

李锋 ;

刘玉红 ;

郭小芳 ;

周斌斌 ;

臧利年 ;

李超 ;

张勇停 ;

汪平 .

中国专利 :CN112097670B ,2020-12-18

[3]

三维测量设备和三维测量方法 [P].

高林志几 .

中国专利 :CN102954770A ,2013-03-06

[4]

三维测量系统及三维测量方法 [P].

太田润 ;

松本慎也 ;

木口哲也 .

中国专利 :CN113748313A ,2021-12-03

[5]

基于多光束自适应互补匹配的高反光物体三维测量方法 [P].

薛俊鹏 ;

宋泽宇 ;

王齐明 ;

张启灿 ;

刘元坤 .

中国专利 :CN113108721A ,2021-07-13

[6]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[7]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

木村匠 .

中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08

[8]

三维测量装置、三维测量方法及三维测量用程序 [P].

林笃司 ;

高地伸夫 ;

七夕高也 ;

矶部祥子 .

中国专利 :CN113874677A ,2021-12-31

[9]

物体三维轮廓测量装置及测量方法 [P].

张军 ;

周常河 ;

贾伟 ;

武腾飞 .

中国专利 :CN101451826B ,2009-06-10

[10]

三维测量方法 [P].

林祯 .

中国专利 :CN102667854A ,2012-09-12

← 1 2 3 4 5 →