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芯片测试方法、测试设备和测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010628049.7
申请日：
2020-07-02
公开(公告)号：
CN111736059B
公开(公告)日：
2020-10-02
发明(设计)人：
陈默
郭海丰
段恋华
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市高新技术产业园高新南六道航盛科技大厦801室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人：
刘倜
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-10-02 | 公开 | 公开 |
| 2020-10-30 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200702 |
| 2022-08-26 | 授权 | 授权 |