投影条纹显微三维测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200720151851.1

申请日：

2007-06-13

公开(公告)号：

CN201081696Y

公开(公告)日：

2008-07-02

发明(设计)人：

庞淑屏刘威万小新战玉臣

申请人：

申请人地址：

110042辽宁省沈阳市大东区东顺城街育才巷18号

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

北京元中知识产权代理有限责任公司

代理人：

张聚增

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-25	专利权的终止	专利权有效期届满号牌文件类型代码:1611 号牌文件序号:101736765467 IPC(主分类):G01B 11/25 专利号:ZL2007201518511 申请日:20070613 授权公告日:20080702 终止日期:无
2008-07-02	授权	授权

共 50 条

[1]

投影三维测量装置 [P].

姚征远 .

中国专利 :CN201548210U ,2010-08-11

[2]

投影三维测量装置 [P].

姚征远 .

中国专利 :CN201716007U ,2011-01-19

[3]

双目显微三维测量装置 [P].

吴冈 ;

高凤娇 ;

李君霞 ;

孙永欣 ;

张贤杰 ;

李昕迪 .

中国专利 :CN202853582U ,2013-04-03

[4]

投影三维测量装置 [P].

姚征远 .

中国专利 :CN101706264A ,2010-05-12

[5]

显微三维测量装置及系统 [P].

吴庆阳 ;

曾增 ;

李玲 ;

张佰春 ;

李景镇 .

中国专利 :CN206546159U ,2017-10-10

[6]

三维测量装置 [P].

梅村信行 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

奥田学 .

中国专利 :CN108139208B ,2018-06-08

[7]

三维测量装置 [P].

梅村信行 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

奥田学 .

中国专利 :CN107923736A ,2018-04-17

[8]

三维测量装置 [P].

梅村信行 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

二村伊久雄 .

中国专利 :CN108139206B ,2018-06-08

[9]

三维测量装置 [P].

间宫高弘 ;

石垣裕之 .

中国专利 :CN103245301A ,2013-08-14

[10]

三维测量装置 [P].

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

二村伊久雄 .

中国专利 :CN108700409A ,2018-10-23

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