显微三维测量装置及系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621310833.9

申请日：

2016-11-29

公开(公告)号：

CN206546159U

公开(公告)日：

2017-10-10

发明(设计)人：

吴庆阳曾增李玲张佰春李景镇

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区南海大道3688号

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312

代理人：

王利彬

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种显微三维测量装置及系统 [P].

吴庆阳 ;

曾增 ;

李玲 ;

张佰春 ;

李景镇 .

中国专利 :CN106500629B ,2017-03-15

[2]

接触式三维测量装置及三维测量系统 [P].

陈尚俭 ;

谢江虎 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN220912262U ,2024-05-07

[3]

投影条纹显微三维测量装置 [P].

庞淑屏 ;

刘威 ;

万小新 ;

战玉臣 .

中国专利 :CN201081696Y ,2008-07-02

[4]

双目显微三维测量装置 [P].

吴冈 ;

高凤娇 ;

李君霞 ;

孙永欣 ;

张贤杰 ;

李昕迪 .

中国专利 :CN202853582U ,2013-04-03

[5]

一种三维测量装置 [P].

王凯 ;

华磊 ;

何浩星 .

中国专利 :CN212227994U ,2020-12-25

[6]

三维显微术 [P].

因格·克莱珀 ;

马蒂亚斯·瓦尔特 .

中国专利 :CN110383137B ,2019-10-25

[7]

三维测量装置 [P].

广瀬和义 ;

龟井宏记 ;

杉山贵浩 ;

渡边明佳 .

中国专利 :CN113295110A ,2021-08-24

[8]

三维测量装置 [P].

广瀬和义 ;

龟井宏记 ;

杉山贵浩 ;

渡边明佳 .

中国专利 :CN115388809A ,2022-11-25

[9]

三维测量装置 [P].

广瀬和义 ;

龟井宏记 ;

杉山贵浩 ;

渡边明佳 .

日本专利 :CN113295110B ,2025-06-10

[10]

光笔及三维测量装置 [P].

陈尚俭 ;

李侠 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN220960007U ,2024-05-14

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