缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202210291632.2

申请日：

2022-03-23

公开(公告)号：

CN114627092A

公开(公告)日：

2022-06-14

发明(设计)人：

不公告发明人

申请人：

申请人地址：

516057 广东省惠州市惠城区马安镇新鹏路4号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T762 G06T770

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

蒋姗

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-14	公开	公开
2022-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220323

共 50 条

[1]

缺陷检测方法及装置、电子设备、可读存储介质 [P].

程煜 ;

代明 ;

任亚恒 ;

赵航 ;

陈宏彩 ;

张伟平 .

中国专利 :CN118823513A ,2024-10-22

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

刘文龙 ;

高斌斌 .

中国专利 :CN112801047B ,2021-05-14

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

汤寅航 ;

林国森 ;

张发恩 .

中国专利 :CN111784672A ,2020-10-16

[4]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[6]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘阳兴 ;

郭中原 ;

李培鹏 .

中国专利 :CN113240673B ,2021-08-10

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12

[10]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

胡流彬 ;

肖寒琼 ;

范振亮 ;

张修龙 ;

刘衍忠 .

中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02

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