缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110775617.0

申请日：

2021-07-09

公开(公告)号：

CN113240673B

公开(公告)日：

2021-08-10

发明(设计)人：

刘阳兴郭中原李培鹏

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技大厦8层

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T790 G06T500 G06N308 G06N304

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

杨艇要

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210709
2021-09-17	授权	授权
2021-08-10	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12

[4]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[5]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[6]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘尚知 ;

胡鸿珂 ;

郝伟 ;

余映天 ;

赵洋 ;

常酉泉 ;

方乐缘 ;

杨震 ;

颜志 ;

李晨妍 ;

曾欣 .

中国专利 :CN120374554A ,2025-07-25

[7]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

胡流彬 ;

肖寒琼 ;

范振亮 ;

张修龙 ;

刘衍忠 .

中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02

[8]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031B ,2024-10-29

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114627092A ,2022-06-14

[10]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031A ,2024-07-12

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