缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510462056.7

申请日：

2025-04-14

公开(公告)号：

CN120374554A

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

刘尚知胡鸿珂郝伟余映天赵洋常酉泉方乐缘杨震颜志李晨妍曾欣

申请人：

中国移动通信集团湖南有限公司中国移动通信集团有限公司

申请人地址：

410001 湖南省长沙市芙蓉区车站北路489号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/54 G06V10/75 G06V10/74 G06V10/44 G06V10/80 G06N3/0464

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

孟洋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250414
2025-07-25	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陈路燕 ;

聂磊 .

中国专利 :CN118212175A ,2024-06-18

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘阳兴 ;

郭中原 ;

李培鹏 .

中国专利 :CN113240673B ,2021-08-10

[6]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

潘屹峰 ;

李勇 ;

杨骥 ;

王力志 ;

黄吴蒙 ;

刘章聪 ;

何昱 ;

杨锐 ;

张道林 ;

张健芳 .

中国专利 :CN121033055A ,2025-11-28

[7]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

胡流彬 ;

肖寒琼 ;

范振亮 ;

张修龙 ;

刘衍忠 .

中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[10]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

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