缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210444617.7

申请日：

2022-04-26

公开(公告)号：

CN114841946A

公开(公告)日：

2022-08-02

发明(设计)人：

宗泽亮刘华凯吴佳飞

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区桂平路391号3号楼1605A室

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T773 G06T500 G06T550

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

董文俊

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220426
2022-08-02	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[2]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[4]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[5]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[6]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘尚知 ;

胡鸿珂 ;

郝伟 ;

余映天 ;

赵洋 ;

常酉泉 ;

方乐缘 ;

杨震 ;

颜志 ;

李晨妍 ;

曾欣 .

中国专利 :CN120374554A ,2025-07-25

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118505654A ,2024-08-16

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄炜昭 ;

陈龙 ;

谢欢欢 ;

辛拓 ;

汪鹏 ;

余广译 ;

蒋立斌 ;

张成巍 ;

佘楚云 ;

林泽伟 .

中国专利 :CN120257018A ,2025-07-04

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘阳兴 ;

郭中原 ;

李培鹏 .

中国专利 :CN113240673B ,2021-08-10

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