缺陷检测方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511565361.5

申请日：

2025-10-30

公开(公告)号：

CN121033055A

公开(公告)日：

2025-11-28

发明(设计)人：

潘屹峰李勇杨骥王力志黄吴蒙刘章聪何昱杨锐张道林张健芳

申请人：

广州中科云图智能科技有限公司

申请人地址：

510000 广东省广州市海珠区新港东路1068号2308房

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T3/4038 G06T3/60 G06T5/50 G06T7/13 G06T7/62

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

杜杨

法律状态：

公开

国省代码：

广东省广州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-28	公开	公开
2025-12-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20251030

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

胡流彬 ;

肖寒琼 ;

范振亮 ;

张修龙 ;

刘衍忠 .

中国专利 :CN117495773A ,2024-02-02

[2]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘尚知 ;

胡鸿珂 ;

郝伟 ;

余映天 ;

赵洋 ;

常酉泉 ;

方乐缘 ;

杨震 ;

颜志 ;

李晨妍 ;

曾欣 .

中国专利 :CN120374554A ,2025-07-25

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[5]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[8]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118505654A ,2024-08-16

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