单固定型故障低功耗测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811173764.5

申请日：

2018-10-09

公开(公告)号：

CN109143039B

公开(公告)日：

2019-01-04

发明(设计)人：

向东

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

王庆龙;苗晓静

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-04	公开	公开
2019-01-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20181009
2020-06-16	授权	授权

共 50 条

[1]

低功耗单固定型故障测试装置及方法、电子设计自动化产品 [P].

向东 .

中国专利 :CN119270027A ,2025-01-07

[2]

一种基于向量压缩的低功耗测试压缩方法和系统、CLFSR [P].

向东 .

中国专利 :CN108845248B ,2018-11-20

[3]

基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法及相关设备 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN107544017A ,2018-01-05

[4]

低功耗扫描测试技术及装置 [P].

林希江 ;

达赖厄兹·齐兹 ;

马克·卡萨布 ;

格泽戈兹·姆鲁加尔斯基 ;

贾纳兹·拉杰斯基 ;

杰齐·泰泽 .

中国专利 :CN101663648A ,2010-03-03

[5]

一种芯片低功耗测试电路和方法 [P].

柳春笙 ;

唐向东 .

中国专利 :CN108169665A ,2018-06-15

[6]

基于电路分割的低功耗扫描测试方法 [P].

陈进 ;

杜敏 ;

郭筝 .

中国专利 :CN1737599A ,2006-02-22

[7]

低功耗加权伪随机测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN107526019A ,2017-12-29

[8]

单固定型故障基于可测试性影响锥的测试精简方法及系统 [P].

向东 .

中国专利 :CN110221196A ,2019-09-10

[9]

基于测试码间距离的伪随机低功耗测试方法 [P].

吴悦 ;

顾苏贇 ;

张鼎 ;

徐拾义 .

中国专利 :CN103344907A ,2013-10-09

[10]

一种变流器全功率低功耗测试方法 [P].

韩耀飞 ;

熊树 ;

李渊 ;

郭蓓蕾 ;

赵张飞 ;

陈国振 ;

樊晓虹 ;

程坦 ;

马星河 ;

杨海江 ;

王金鹏 .

中国专利 :CN103248262A ,2013-08-14

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