基于电路分割的低功耗扫描测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510029301.8

申请日：

2005-09-01

公开(公告)号：

CN1737599A

公开(公告)日：

2006-02-22

发明(设计)人：

陈进杜敏郭筝

申请人：

申请人地址：

200240上海市闵行区东川路800号

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

代理机构：

上海交达专利事务所

代理人：

王锡麟;王桂忠

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-02-22	公开	公开
2011-11-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101137111613 IPC(主分类):G01R 31/317 专利号:ZL2005100293018 申请日:20050901 授权公告日:20071031 终止日期:20100901
2007-10-31	授权	授权
2006-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

低功耗扫描测试电路及运行方法 [P].

叶波 .

中国专利 :CN101975922A ,2011-02-16

[2]

一种基于扫描链分段控制的低功耗扫描测试电路 [P].

蔡志匡 ;

赵艺萌 ;

赵泽宇 ;

谢祖帅 ;

刘璐 ;

郭静静 ;

王子轩 ;

郭宇锋 .

中国专利 :CN115469214A ,2022-12-13

[3]

低功耗扫描测试技术及装置 [P].

林希江 ;

达赖厄兹·齐兹 ;

马克·卡萨布 ;

格泽戈兹·姆鲁加尔斯基 ;

贾纳兹·拉杰斯基 ;

杰齐·泰泽 .

中国专利 :CN101663648A ,2010-03-03

[4]

构造具有低测试功耗的两级扫描测试结构的方法 [P].

向东 ;

孙家广 ;

李开伟 .

中国专利 :CN1603853A ,2005-04-06

[5]

一种低功耗边界扫描测试方法 [P].

邓立宝 ;

付宁 ;

乔立岩 ;

孙宁 ;

彭喜元 .

中国专利 :CN110007217B ,2019-07-12

[6]

一种低功耗扫描自测试电路以及自测试方法 [P].

向东 ;

刘博 .

中国专利 :CN106546907B ,2017-03-29

[7]

一种基于并行施加测试激励的低功耗扫描测试方法及装置 [P].

郭阳 ;

邓丁 ;

宋结兵 ;

李振涛 ;

张臻阳 .

中国专利 :CN106226678B ,2016-12-14

[8]

带测试电路的低功耗异步握手电路 [P].

刘凯峰 .

中国专利 :CN120768341A ,2025-10-10

[9]

一种基于扫描链重组的电路功能测试方法 [P].

孙大成 .

中国专利 :CN120595093A ,2025-09-05

[10]

单固定型故障低功耗测试方法 [P].

向东 .

中国专利 :CN109143039B ,2019-01-04

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