一种基于并行施加测试激励的低功耗扫描测试方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610567940.8
申请日
2016-07-15
公开(公告)号
CN106226678B
公开(公告)日
2016-12-14
发明(设计)人
郭阳 邓丁 宋结兵 李振涛 张臻阳
申请人
申请人地址
410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学计算机学院
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008
代理人
周长清;蒋维特
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于电路分割的低功耗扫描测试方法 [P]. 
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[2]
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乔立岩 ;
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[5]
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[6]
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[7]
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一种MCU低功耗模式切换的测试方法、装置及系统 [P]. 
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[9]
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[10]
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