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高温目标短波红外方向光谱发射率及温度实验观测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110916049.1
申请日
:
2021-08-11
公开(公告)号
:
CN113639867A
公开(公告)日
:
2021-11-12
发明(设计)人
:
孙也涵
潘军
蒋立军
郝立波
陈霄燕
曹宇
卞宇涛
王鹤霖
申请人
:
申请人地址
:
130012 吉林省长春市长春高新技术产业开发区前进大街2699号
IPC主分类号
:
G01J3443
IPC分类号
:
G01J328
G01N21359
G06F1715
G06F1718
代理机构
:
长春吉大专利代理有限责任公司 22201
代理人
:
张岩
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-12
公开
公开
2021-11-30
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/443 申请日:20210811
共 47 条
[1]
一种高温目标光谱发射率实验观测方法及测量装置
[P].
孙也涵
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孙也涵
;
潘军
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潘军
;
蒋立军
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蒋立军
;
郝立波
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郝立波
;
陈霄燕
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陈霄燕
;
曹宇
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曹宇
;
王鹤霖
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王鹤霖
;
郭雅琪
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郭雅琪
.
中国专利
:CN113567419B
,2021-10-29
[2]
高温目标材料红外发射率测量装置及方法
[P].
解俊虎
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解俊虎
;
王军
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王军
;
陈青
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陈青
;
成娟
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成娟
;
高蒙
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高蒙
;
高飞
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高飞
;
高教波
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高教波
.
中国专利
:CN110017902A
,2019-07-16
[3]
一种连续测量材料高温方向光谱发射率的方法
[P].
周金帅
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周金帅
;
王阳
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王阳
;
高增华
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高增华
;
汤龙生
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汤龙生
;
裴雨辰
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裴雨辰
;
赵英民
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赵英民
.
中国专利
:CN109507222B
,2019-03-22
[4]
固体材料高温方向光谱发射率测量装置及其应用
[P].
帅永
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帅永
;
郭延铭
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郭延铭
;
谈和平
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谈和平
.
中国专利
:CN107782717A
,2018-03-09
[5]
一种材料高温方向光谱发射率测试装置
[P].
周金帅
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周金帅
;
王阳
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王阳
;
高增华
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高增华
;
汤龙生
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汤龙生
;
裴雨辰
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裴雨辰
;
赵英民
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赵英民
.
中国专利
:CN109297912A
,2019-02-01
[6]
一种高温材料法向光谱发射率测量系统
[P].
符泰然
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符泰然
;
谈鹏
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谈鹏
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曹阳
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曹阳
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赵桓
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赵桓
.
中国专利
:CN102042993A
,2011-05-04
[7]
红外透明材料法向光谱发射率测试装置
[P].
毛小建
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毛小建
;
胡旭
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胡旭
;
冯明辉
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冯明辉
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姜本学
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姜本学
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张龙
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张龙
.
中国专利
:CN106840411B
,2017-06-13
[8]
红外窗口的高温光谱发射率测量方法及装置
[P].
张宇峰
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张宇峰
;
戴景民
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戴景民
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李明
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李明
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胡卫星
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胡卫星
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刘安业
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刘安业
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付莹
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付莹
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楚春雨
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楚春雨
.
中国专利
:CN105784333A
,2016-07-20
[9]
一种材料光谱发射率-温度分离反演方法
[P].
郭靖
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
郭靖
;
孔德仁
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
孔德仁
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孙红胜
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
孙红胜
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王加朋
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王加朋
;
杜继东
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杜继东
;
马寅魏
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
马寅魏
;
郭江峰
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
郭江峰
;
邱超
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
邱超
;
于昌本
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
于昌本
;
刘岩
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
刘岩
.
中国专利
:CN120277859A
,2025-07-08
[10]
一种超高温目标多光谱发射率优化全场温度测量方法
[P].
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机构:
殷春
;
朱麟超
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
朱麟超
;
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机构:
程玉华
;
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机构:
陈凯
;
刘健祺
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
刘健祺
;
张远豪
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
张远豪
.
中国专利
:CN120445416A
,2025-08-08
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