一种新型涂层测厚仪探头

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121991299.3
申请日
2021-08-24
公开(公告)号
CN215639357U
公开(公告)日
2022-01-25
发明(设计)人
王鑫星
申请人
申请人地址
210000 江苏省南京市江宁区滨江经济开发区盛安大道739号科创园区一幢
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588
代理人
甘春燕
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种新型涂层测厚仪探头 [P]. 
朱卫民 ;
李蔚森 .
中国专利 :CN207180643U ,2018-04-03
[2]
一种新型涂层测厚仪探头 [P]. 
高富银 ;
朱新洋 ;
张俐 ;
刘勇 ;
吴涛 .
中国专利 :CN206919866U ,2018-01-23
[3]
一种新型涂层测厚仪探头 [P]. 
朱卫民 ;
李蔚森 .
中国专利 :CN107328380A ,2017-11-07
[4]
一种涂层测厚仪探头 [P]. 
孙明坤 ;
杜桂强 ;
周云郊 .
中国专利 :CN209027413U ,2019-06-25
[5]
一种涂层测厚仪探头 [P]. 
苏亚东 .
中国专利 :CN205079731U ,2016-03-09
[6]
一种涂层测厚仪便捷探头 [P]. 
苏亚东 .
中国专利 :CN204963773U ,2016-01-13
[7]
一种新型分体式涂层测厚仪探头 [P]. 
王加兴 .
中国专利 :CN216348486U ,2022-04-19
[8]
一种涂层测厚仪探头 [P]. 
居晓丽 ;
朱小龙 ;
苏亚东 .
中国专利 :CN105115411A ,2015-12-02
[9]
一种新型涂层测厚仪 [P]. 
匡晓龙 ;
石建堂 .
中国专利 :CN208026177U ,2018-10-30
[10]
一种涂层测厚仪的探头结构 [P]. 
李友林 ;
于淼 .
中国专利 :CN214792969U ,2021-11-19