一种新型涂层测厚仪

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专利类型
实用新型
申请号
CN201820613295.3
申请日
2018-04-26
公开(公告)号
CN208026177U
公开(公告)日
2018-10-30
发明(设计)人
匡晓龙 石建堂
申请人
申请人地址
330000 江西省南昌市青云谱区广州路69号
IPC主分类号
G01B506
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
一种新型涂层测厚仪探头 [P]. 
高富银 ;
朱新洋 ;
张俐 ;
刘勇 ;
吴涛 .
中国专利 :CN206919866U ,2018-01-23
[2]
一种涂层测厚仪 [P]. 
刘思三 ;
干建冰 ;
钟泽兵 ;
吕波 ;
张青峰 ;
刘金忠 ;
孟良 .
中国专利 :CN210833491U ,2020-06-23
[3]
一种涂层测厚仪 [P]. 
马俊超 .
中国专利 :CN221037356U ,2024-05-28
[4]
一种新型涂层测厚仪探头 [P]. 
朱卫民 ;
李蔚森 .
中国专利 :CN207180643U ,2018-04-03
[5]
一种新型涂层测厚仪设备 [P]. 
国江 .
中国专利 :CN212432096U ,2021-01-29
[6]
一种新型涂层测厚仪探头 [P]. 
王鑫星 .
中国专利 :CN215639357U ,2022-01-25
[7]
涂层测厚仪 [P]. 
李锐 ;
张冰 ;
侯宇轩 ;
李文敬 .
中国专利 :CN212109947U ,2020-12-08
[8]
涂层测厚仪 [P]. 
郭飞 ;
何志军 ;
孙友臣 .
中国专利 :CN209246986U ,2019-08-13
[9]
一种新型涂层测厚仪 [P]. 
郭殿生 ;
董振辉 ;
雒斌韬 .
中国专利 :CN209945309U ,2020-01-14
[10]
一种涂层测厚仪 [P]. 
周裕昆 .
中国专利 :CN211954085U ,2020-11-17