超高压LDMOS器件结构及制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110441110.8
申请日
2011-12-26
公开(公告)号
CN103178087B
公开(公告)日
2013-06-26
发明(设计)人
宁开明 董科 马栋 朱东园
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
IPC主分类号
H01L2906
IPC分类号
H01L2978 H01L21336
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
刘昌荣
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
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超高压LDMOS器件结构 [P]. 
邢军军 .
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超高压LDMOS器件的结构及制备方法 [P]. 
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超高压锗硅HBT晶体管器件的结构及制备方法 [P]. 
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刘冬华 ;
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邵凯 ;
陈雪萌 ;
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