一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510198761.7

申请日：

2015-04-24

公开(公告)号：

CN104792501B

公开(公告)日：

2015-07-22

发明(设计)人：

韩艳玲李斌成崔浩周胜

申请人：

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-07-22	公开	公开
2015-08-19	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101621085965 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2015101987617 申请日:20150424
2017-06-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置 [P].

田中州 ;

何星 ;

王帅 ;

林海奇 ;

赵旺 ;

杨康健 ;

杨平 ;

许冰 .

中国专利 :CN114739643A ,2022-07-12

[2]

一种基于腔损耗建模的光腔衰荡高反射率测量方法 [P].

田中州 ;

何星 ;

王帅 ;

杨平 ;

许冰 .

中国专利 :CN114136926A ,2022-03-04

[3]

一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法 [P].

张善超 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN119246471A ,2025-01-03

[4]

一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法 [P].

张善超 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN119246471B ,2025-09-23

[5]

一种用于光腔衰荡高反射率测量的双传感器调腔方法 [P].

何星 ;

田中州 ;

赖柏衡 ;

赵旺 ;

王帅 ;

杨平 .

中国专利 :CN113984670A ,2022-01-28

[6]

基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN101261182A ,2008-09-10

[7]

一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 .

中国专利 :CN106556576A ,2017-04-05

[8]

一种可在光电探测器饱和状态下工作的光腔衰荡同时测量高反/高透光学元件反射率和透过率的数据处理方法 [P].

韩艳玲 ;

王静 ;

崔浩 ;

李斌成 .

中国专利 :CN117782531A ,2024-03-29

[9]

一种消除表面反射对光腔衰荡技术测量光学损耗影响的数据处理方法 [P].

李斌成 ;

蔡炳华 ;

王静 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN118225385A ,2024-06-21

[10]

一种基于光腔衰荡技术测量可数学描述曲面反射光学元件高反射率均匀性的检测方法 [P].

李斌成 ;

蔡海虹 ;

韩艳玲 ;

王静 ;

崔浩 .

中国专利 :CN119715379A ,2025-03-28

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