一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411380478.1

申请日：

2024-09-30

公开(公告)号：

CN119246471B

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

张善超朱鹏

申请人：

华南师范大学

申请人地址：

510000 广东省广州市中山大道西55号

IPC主分类号：

G01N21/47

IPC分类号：

G01N21/55

代理机构：

广州星粤知识产权代理事务所(普通合伙) 441176

代理人：

米晶晶

法律状态：

授权

国省代码：

广东省佛山市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-23	授权	授权
2025-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/47申请日:20240930
2025-01-03	公开	公开

共 50 条

[1]

一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法 [P].

张善超 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN119246471A ,2025-01-03

[2]

一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置 [P].

田中州 ;

何星 ;

王帅 ;

林海奇 ;

赵旺 ;

杨康健 ;

杨平 ;

许冰 .

中国专利 :CN114739643A ,2022-07-12

[3]

一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法 [P].

韩艳玲 ;

李斌成 ;

崔浩 ;

周胜 .

中国专利 :CN104792501B ,2015-07-22

[4]

一种基于腔损耗建模的光腔衰荡高反射率测量方法 [P].

田中州 ;

何星 ;

王帅 ;

杨平 ;

许冰 .

中国专利 :CN114136926A ,2022-03-04

[5]

一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 .

中国专利 :CN106556576A ,2017-04-05

[6]

一种用于光腔衰荡高反射率测量的双传感器调腔方法 [P].

何星 ;

田中州 ;

赖柏衡 ;

赵旺 ;

王帅 ;

杨平 .

中国专利 :CN113984670A ,2022-01-28

[7]

基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN101261182A ,2008-09-10

[8]

一种基于光腔衰荡技术测量可数学描述曲面反射光学元件高反射率均匀性的检测方法 [P].

李斌成 ;

蔡海虹 ;

韩艳玲 ;

王静 ;

崔浩 .

中国专利 :CN119715379A ,2025-03-28

[9]

一种基于光腔衰荡技术测量球面高反射光学元件小区域内反射率均匀性的方法 [P].

文一好 ;

王静 ;

李斌成 ;

张依飞 .

中国专利 :CN118225384A ,2024-06-21

[10]

微波反射率测量组件及微波反射率测量系统 [P].

余争鸣 ;

潘金杰 ;

甘丹 ;

毛晶晶 .

中国专利 :CN209342634U ,2019-09-03

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