一种基于光腔衰荡技术测量球面高反射光学元件小区域内反射率均匀性的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410162026.X

申请日：

2024-02-05

公开(公告)号：

CN118225384A

公开(公告)日：

2024-06-21

发明(设计)人：

文一好王静李斌成张依飞

申请人：

电子科技大学

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/02 G01N21/55 G01N21/45 G01J9/02 G01N21/88 G01N21/958 G01B11/00

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/00申请日:20240205
2024-06-21	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于光腔衰荡技术测量可数学描述曲面反射光学元件高反射率均匀性的检测方法 [P].

李斌成 ;

蔡海虹 ;

韩艳玲 ;

王静 ;

崔浩 .

中国专利 :CN119715379A ,2025-03-28

[2]

一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 .

中国专利 :CN106556576A ,2017-04-05

[3]

一种基于环形腔光腔衰荡技术的反射光学元件前向和背向散射绝对测量方法 [P].

李斌成 ;

王超人 ;

王静 ;

崔浩 .

中国专利 :CN117760698A ,2024-03-26

[4]

基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN101261182A ,2008-09-10

[5]

一种基于环形腔光腔衰荡技术的高反射光学元件透过率及前、后向散射的绝对测量方法 [P].

王静 ;

朱颖沙 ;

李斌成 ;

崔浩 ;

韩艳玲 ;

李桃 .

中国专利 :CN120232621A ,2025-07-01

[6]

一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法 [P].

张善超 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN119246471A ,2025-01-03

[7]

一种光腔衰荡的高反射材料的反射率测量系统及方法 [P].

张善超 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN119246471B ,2025-09-23

[8]

一种基于腔损耗建模的光腔衰荡高反射率测量方法 [P].

田中州 ;

何星 ;

王帅 ;

杨平 ;

许冰 .

中国专利 :CN114136926A ,2022-03-04

[9]

一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收损耗的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 ;

高椿明 .

中国专利 :CN107132029A ,2017-09-05

[10]

一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置 [P].

田中州 ;

何星 ;

王帅 ;

林海奇 ;

赵旺 ;

杨康健 ;

杨平 ;

许冰 .

中国专利 :CN114739643A ,2022-07-12

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