一种薄膜杨氏模量的确定方法、装置及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110454246.6

申请日：

2021-04-26

公开(公告)号：

CN113311074A

公开(公告)日：

2021-08-27

发明(设计)人：

李辉孟胜伟

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

IPC主分类号：

G01N2907

IPC分类号：

G01N924

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

刘恋;张颖玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-27	公开	公开
2021-09-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/07 申请日:20210426

共 50 条

[1]

岩石静态杨氏模量的确定方法 [P].

王振林 ;

张妮 ;

孙婷 ;

孙中春 .

中国专利 :CN108132342A ,2018-06-08

[2]

薄膜材料杨氏模量测试结构及方法 [P].

李伟华 ;

王雷 ;

张璐 ;

周再发 .

中国专利 :CN104034584A ,2014-09-10

[3]

一种用于薄膜杨氏模量测量的系统 [P].

丹特·多伦雷 ;

杨斐 ;

陈琨 ;

路子沫 ;

李艳宁 ;

傅星 ;

胡小唐 .

中国专利 :CN202748307U ,2013-02-20

[4]

一种用于薄膜杨氏模量测量的系统 [P].

丹特·多伦雷 ;

杨斐 ;

陈琨 ;

路子沫 ;

李艳宁 ;

傅星 ;

胡小唐 .

中国专利 :CN102768184A ,2012-11-07

[5]

一种MEMS双层薄膜杨氏模量测量装置及方法 [P].

刘海韵 ;

王峰 ;

陈东旭 ;

王婧雪 .

中国专利 :CN119437866A ,2025-02-14

[6]

一种测量镶嵌薄膜杨氏模量的方法 [P].

肖夏 ;

孙远 ;

单兴锰 .

中国专利 :CN102520066A ,2012-06-27

[7]

一种杨氏模量测量装置 [P].

田亚芳 ;

刘志强 ;

李讯鹏 .

中国专利 :CN202548019U ,2012-11-21

[8]

一种杨氏模量测量装置 [P].

李玉山 ;

刘红艳 .

中国专利 :CN208043555U ,2018-11-02

[9]

一种杨氏模量测量装置 [P].

苗永平 ;

李鹏宇 ;

刘维慧 ;

张进娟 ;

张少梅 ;

李蕴达 ;

胡翠莹 ;

高洪悦 ;

姚金林 .

中国专利 :CN215448726U ,2022-01-07

[10]

一种杨氏模量测量装置 [P].

左小琼 .

中国专利 :CN109991082A ,2019-07-09

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