半导体装置及其制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010798546.1
申请日
2020-08-11
公开(公告)号
CN113053994A
公开(公告)日
2021-06-29
发明(设计)人
岸本裕幸 加藤浩朗 西口俊史 下村纱矢 富田幸太
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L2906
IPC分类号
H01L2940 H01L2978 H01L21336
代理机构
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
刘英华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
岸本裕幸 ;
加藤浩朗 ;
西口俊史 ;
下村纱矢 ;
富田幸太 .
日本专利 :CN119545872A ,2025-02-28
[2]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
岸本裕幸 ;
加藤浩朗 ;
西口俊史 ;
下村纱矢 ;
富田幸太 .
日本专利 :CN113053994B ,2025-03-11
[3]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
小林仁 .
中国专利 :CN103000690A ,2013-03-27
[4]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
鸟居克行 ;
杉山欣二 .
中国专利 :CN101842903A ,2010-09-22
[5]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
鉾本吉孝 ;
西脇达也 ;
新井雅俊 .
中国专利 :CN105206607A ,2015-12-30
[6]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
浅原英敏 .
中国专利 :CN102694021A ,2012-09-26
[7]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
林弘和 .
中国专利 :CN103295888A ,2013-09-11
[8]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
三沢宽人 ;
奥村秀树 .
中国专利 :CN103165655A ,2013-06-19
[9]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
鸟居克行 .
中国专利 :CN103579296B ,2014-02-12
[10]
半导体装置及其制造方法 [P]. 
可知刚 .
日本专利 :CN120813003A ,2025-10-17