用于光学检测器的校准单元

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910003869.4
申请日
2019-01-03
公开(公告)号
CN110057759B
公开(公告)日
2019-07-26
发明(设计)人
尤里·科姆帕尼斯 布迪·科马拉 保罗·马克·贡达·卡查
申请人
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
G01N2131
IPC分类号
G01N2103
代理机构
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219
代理人
穆森;戚传江
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光学单元检测器 [P]. 
宋瑶 ;
罗阁 ;
程子健 ;
张振方 ;
王志刚 ;
王岱杰 .
中国专利 :CN212321536U ,2021-01-08
[2]
光学单元检测器 [P]. 
宋瑶 ;
罗阁 ;
程子健 ;
张振方 ;
王志刚 ;
王岱杰 .
中国专利 :CN111948325A ,2020-11-17
[3]
光学检测器 [P]. 
R·森德 ;
I·布鲁德 ;
S·瓦鲁施 ;
S·伊尔勒 ;
E·蒂尔 ;
C·朗根施密德 .
中国专利 :CN107003120A ,2017-08-01
[4]
光学检测器 [P]. 
R·森德 ;
I·布鲁德 ;
S·伊尔勒 ;
E·蒂尔 ;
H·沃内博格 .
中国专利 :CN105637320A ,2016-06-01
[5]
光学检测器 [P]. 
T·阿尔腾贝克 ;
H·贝克特尔 ;
R·赫 ;
F·迪特曼 ;
S·穆勒 ;
T·胡普福尔 ;
P·P·卡莱塔 ;
R·古斯特 ;
B·福伊尔施泰因 ;
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
R·森德 ;
I·布鲁德 .
中国专利 :CN110770555A ,2020-02-07
[6]
光学检测器 [P]. 
S·B·罗博尔 ;
理查德·金塔尼利亚 .
中国专利 :CN111051984B ,2020-04-21
[7]
光学检测器 [P]. 
T·阿尔腾贝克 ;
H·贝克特尔 ;
R·赫 ;
F·迪特曼 ;
S·穆勒 ;
T·胡普福尔 ;
P·P·卡莱塔 ;
R·古斯特 ;
B·福伊尔施泰因 ;
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
R·森德 ;
I·布鲁德 .
德国专利 :CN119958702A ,2025-05-09
[8]
光学检测器 [P]. 
S·瓦鲁施 ;
A·克莱恩 ;
S·穆勒 ;
W·赫尔梅斯 ;
R·森德 .
中国专利 :CN113396320A ,2021-09-14
[9]
光学检测器 [P]. 
R·森德 ;
I·布鲁德 ;
S·瓦鲁施 ;
S·伊尔勒 ;
E·蒂尔 ;
C·朗根施密德 ;
M·阿尔海尔维 .
中国专利 :CN107003122A ,2017-08-01
[10]
光学检测器 [P]. 
R·森德 ;
I·布鲁德 ;
S·瓦鲁施 ;
S·伊尔勒 ;
E·蒂尔 .
中国专利 :CN107003121A ,2017-08-01