一种晶圆检查台宏观照明装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621390641.3

申请日：

2016-12-16

公开(公告)号：

CN206361420U

公开(公告)日：

2017-07-28

发明(设计)人：

姚军顾宁

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区泰谷路169号C座1层

IPC主分类号：

F21K920

IPC分类号：

F21V800 F21V500 H01L2166 F21Y11510

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

顾正超

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-28	授权	授权
2019-07-26	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):F21K 9/20 变更事项:专利权人变更前:上海精典电子有限公司变更后:精典电子股份有限公司变更事项:地址变更前:201206 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区泰谷路169号C座1层变更后:200131 上海市浦东新区自由贸易试验区泰谷路169号C座1层

共 50 条

[1]

新型晶圆检查台宏观照明装置 [P].

魏盘生 .

中国专利 :CN208123910U ,2018-11-20

[2]

宏观照明装置 [P].

神崎和宏 .

中国专利 :CN1537225B ,2004-10-13

[3]

晶圆宏观检查模组 [P].

田金泉 ;

王广禄 ;

李涛 ;

陈曦 .

中国专利 :CN222507535U ,2025-02-18

[4]

一种晶圆的晶背宏观检查装置 [P].

孙灿杰 ;

李涛 ;

王广禄 ;

陈曦 ;

柯华榕 .

中国专利 :CN213042880U ,2021-04-23

[5]

一种晶圆的晶面宏观检查装置 [P].

孙灿杰 ;

李涛 ;

王广禄 ;

陈曦 ;

柯华榕 .

中国专利 :CN213042881U ,2021-04-23

[6]

一种晶圆宏观检查用LED强光灯 [P].

张培义 .

中国专利 :CN213930539U ,2021-08-10

[7]

晶圆检查装置、晶圆检查系统、晶圆检查方法以及程序 [P].

佐佐木和博 .

日本专利 :CN120917555A ,2025-11-07

[8]

晶圆表面宏观检测装置 [P].

夏儒斐 .

中国专利 :CN213932603U ,2021-08-10

[9]

一种景观照明装置 [P].

王慧 ;

曹文珺 .

中国专利 :CN208779330U ,2019-04-23

[10]

一种景观照明装置 [P].

李宝章 .

中国专利 :CN202733624U ,2013-02-13

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