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样本分析系统及样本分析方法

被引：0
申请号：
CN202011434645.8
申请日：
2020-12-10
公开(公告)号：
CN114627986A
公开(公告)日：
2022-06-14
发明(设计)人：
许自一 肖建萍 徐保重 赵涛
申请人：
申请人地址：
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦1-4层
IPC主分类号：
G16H1040
IPC分类号：
G16H1020 G01N3500
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
王学强
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-06-14 公开 公开
共 50 条
[1]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305245B ,2024-04-19
[2]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
张军伟 ;
李学荣 .
中国专利 :CN112285357A ,2021-01-29
[3]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305246B ,2025-06-13
[4]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305246A ,2021-02-02
[5]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305245A ,2021-02-02
[6]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
张军伟 ;
郁琦 .
中国专利 :CN113376388A ,2021-09-10
[7]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
张军伟 ;
郁琦 .
中国专利 :CN113376388B ,2025-05-30
[8]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
张军伟 ;
李学荣 .
中国专利 :CN112285357B ,2024-03-08
[9]
样本分析系统、样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
余渊 .
中国专利 :CN114611086A ,2022-06-10
[10]
样本分析系统、样本分析方法 [P]. 
刘右林 ;
代勇 ;
刘洋 ;
方涛 ;
周丽华 .
中国专利 :CN120214345A ,2025-06-27
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