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一种芯片自动连接测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821358353.9
申请日
:
2018-08-22
公开(公告)号
:
CN208953657U
公开(公告)日
:
2019-06-07
发明(设计)人
:
邓洋飞
申请人
:
申请人地址
:
518108 广东省深圳市宝安区西乡街道龙腾社区西乡大道782号万骏汇商务公寓1507
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01L122
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-29
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180822 授权公告日:20190607 终止日期:20210822
2019-06-07
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片自动连接测试设备
[P].
王淑凤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王淑凤
.
中国专利
:CN211979119U
,2020-11-20
[2]
一种芯片测试设备
[P].
陶云彬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海凌耘微电子有限公司
上海凌耘微电子有限公司
陶云彬
.
中国专利
:CN220438494U
,2024-02-02
[3]
一种芯片后测试设备
[P].
倪黄忠
论文数:
0
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0
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0
倪黄忠
.
中国专利
:CN204374096U
,2015-06-03
[4]
一种封装芯片测试设备
[P].
吕波
论文数:
0
引用数:
0
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0
吕波
.
中国专利
:CN214718557U
,2021-11-16
[5]
一种芯片测试设备
[P].
程厚明
论文数:
0
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0
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0
机构:
芯力测科技(苏州)有限公司
芯力测科技(苏州)有限公司
程厚明
.
中国专利
:CN223259751U
,2025-08-22
[6]
一种芯片测试设备
[P].
黄太洲
论文数:
0
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0
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黄太洲
;
马敏超
论文数:
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马敏超
;
陈晨
论文数:
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陈晨
.
中国专利
:CN215894842U
,2022-02-22
[7]
一种存储芯片自动高速测试设备
[P].
谭少鹏
论文数:
0
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0
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0
谭少鹏
.
中国专利
:CN218413988U
,2023-01-31
[8]
一种铜件压力测试设备
[P].
何建城
论文数:
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何建城
;
陈伟海
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陈伟海
;
熊耀奇
论文数:
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熊耀奇
.
中国专利
:CN208459151U
,2019-02-01
[9]
一种自动跟踪测试设备
[P].
张运府
论文数:
0
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0
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0
张运府
.
中国专利
:CN208187852U
,2018-12-04
[10]
一种升桌腿负重测试设备
[P].
刘勇华
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刘勇华
;
周日东
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周日东
;
周泽南
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周泽南
;
李聪
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李聪
;
金小鑫
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金小鑫
;
邵红梅
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邵红梅
.
中国专利
:CN211784244U
,2020-10-27
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