一种半导体检测用测试台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023297251.0

申请日：

2020-12-31

公开(公告)号：

CN215116615U

公开(公告)日：

2021-12-10

发明(设计)人：

张静赵浩陈博黎载红

申请人：

申请人地址：

201613 上海市松江区中辰路299号1幢103室

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R102 B25H112

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测用测试设备 [P].

杨志勇 ;

单庆喜 ;

王恒 .

中国专利 :CN222461523U ,2025-02-11

[2]

一种半导体测试台 [P].

张琦 ;

王俊 .

中国专利 :CN209014687U ,2019-06-21

[3]

一种半导体测试台 [P].

杨斌 ;

黄峰荣 ;

何亮 ;

曾绍娟 .

中国专利 :CN217820683U ,2022-11-15

[4]

一种半导体探针测试台 [P].

蒋磊 .

中国专利 :CN220894359U ,2024-05-03

[5]

一种半导体恒温测试台 [P].

尹康 ;

梁浩 ;

熊茂林 .

中国专利 :CN220508984U ,2024-02-20

[6]

一种半导体探针测试台 [P].

夏红兵 .

中国专利 :CN215812867U ,2022-02-11

[7]

半导体测试仪及其半导体测试台 [P].

张巍巍 .

中国专利 :CN202066940U ,2011-12-07

[8]

用于半导体性能检测的测试台 [P].

陈长贵 .

中国专利 :CN212625491U ,2021-02-26

[9]

半导体测试台 [P].

曹孙根 .

中国专利 :CN221550845U ,2024-08-16

[10]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

韩智强 ;

吴昌利 .

中国专利 :CN222029066U ,2024-11-19

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