FPGA测试方法、测试板、装置、设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010941472.2

申请日：

2020-09-09

公开(公告)号：

CN112083320A

公开(公告)日：

2020-12-15

发明(设计)人：

杨晗婕邹林辰付涛

申请人：

申请人地址：

214063 江苏省无锡市梁溪路796号

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718

代理人：

黄贞君;冯振华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/317 申请日:20200909
2020-12-15	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、设备、装置和存储介质 [P].

石博 ;

耿婷 .

中国专利 :CN111444100A ,2020-07-24

[2]

测试方法、装置、测试设备和存储介质 [P].

谢冰峰 ;

曹文聪 ;

陈冬鸿 .

中国专利 :CN110677317A ,2020-01-10

[3]

设备测试方法、测试设备和存储介质 [P].

罗伟昌 ;

朱赵川 ;

李魁 .

中国专利 :CN117930066A ,2024-04-26

[4]

接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

姚献萍 .

中国专利 :CN118113620A ,2024-05-31

[5]

接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

易翔 .

中国专利 :CN111858296A ,2020-10-30

[6]

接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

易翔 .

中国专利 :CN111858296B ,2024-06-25

[7]

测试方法、装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵旸 ;

左永强 ;

朴顺福 ;

刘旭峰 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN121093492A ,2025-12-09

[8]

测试方法、装置和存储介质 [P].

田兆勇 ;

董祁超 ;

彭涛 .

中国专利 :CN119420897A ,2025-02-11

[9]

测试方法、装置和存储介质 [P].

田兆勇 ;

董祁超 ;

彭涛 .

中国专利 :CN119420897B ,2025-07-29

[10]

FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

张家华 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

曾岩 ;

赵海洋 ;

孔晓琳 ;

李安平 .

中国专利 :CN113376514B ,2021-09-10

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