测试方法、设备、装置和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010227771.X
申请日
2020-03-26
公开(公告)号
CN111444100A
公开(公告)日
2020-07-24
发明(设计)人
石博 耿婷
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区深南大道创维大厦A座13-16楼
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
晏波
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
姚献萍 .
中国专利 :CN118113620A ,2024-05-31
[2]
接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
易翔 .
中国专利 :CN111858296A ,2020-10-30
[3]
接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
易翔 .
中国专利 :CN111858296B ,2024-06-25
[4]
接口测试方法、设备和存储介质 [P]. 
陈营 ;
吴明浩 ;
仲思宇 .
中国专利 :CN119988235A ,2025-05-13
[5]
接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
翟宏 .
中国专利 :CN114116519A ,2022-03-01
[6]
接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
郑诗雨 ;
张乐祺 ;
段传鹏 ;
李振宗 ;
易阳华 .
中国专利 :CN119512917A ,2025-02-25
[7]
接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
胡鹏强 .
中国专利 :CN113688025A ,2021-11-23
[8]
接口测试方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
张景豪 .
中国专利 :CN118445184A ,2024-08-06
[9]
FPGA测试方法、测试板、装置、设备和存储介质 [P]. 
杨晗婕 ;
邹林辰 ;
付涛 .
中国专利 :CN112083320A ,2020-12-15
[10]
接口测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
郝有健 .
中国专利 :CN112948195A ,2021-06-11