一种光学元件损伤测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910741078.1

申请日：

2019-08-12

公开(公告)号：

CN110346381B

公开(公告)日：

2019-10-18

发明(设计)人：

戴志平

申请人：

申请人地址：

421008 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号(东校区）

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2194

代理机构：

深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙) 44411

代理人：

雷正

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-18	公开	公开
2019-11-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20190812
2022-03-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法 [P].

单翀 ;

李福建 ;

夏兰 ;

朱翔宇 ;

崔勇 ;

季来林 ;

冯伟 ;

赵晓晖 ;

高妍琦 ;

饶大幸 ;

史建 .

中国专利 :CN115371970A ,2022-11-22

[2]

一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法 [P].

单翀 ;

李福建 ;

夏兰 ;

朱翔宇 ;

崔勇 ;

季来林 ;

冯伟 ;

赵晓晖 ;

高妍琦 ;

饶大幸 ;

史建 .

中国专利 :CN115371970B ,2025-12-30

[3]

一种光学元件损伤阈值测量装置 [P].

刘景峰 .

中国专利 :CN204882037U ,2015-12-16

[4]

一种光学元件激光损伤测试设备及方法 [P].

田野 ;

徐振源 ;

韩伟 .

中国专利 :CN114739635A ,2022-07-12

[5]

一种光学元件激光损伤测试设备及方法 [P].

田野 ;

徐振源 ;

韩伟 .

中国专利 :CN114739635B ,2024-11-19

[6]

一种薄膜及光学元件损伤判别的声学方法 [P].

苏俊宏 ;

梁海锋 ;

徐均琪 ;

惠迎雪 ;

杨利红 ;

朱昌 .

中国专利 :CN102297899B ,2011-12-28

[7]

一种光学元件损伤的在线监测方法及系统 [P].

殷伯华 ;

刘垚 ;

赵伟霞 ;

刘俊标 ;

高莹莹 ;

韩立 .

中国专利 :CN111983032A ,2020-11-24

[8]

一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P].

单翀 ;

夏兰 ;

冯伟 ;

李福建 ;

赵晓晖 ;

饶大幸 ;

崔勇 ;

季来林 ;

高妍琦 ;

赵元安 ;

刘晓凤 .

中国专利 :CN114486190A ,2022-05-13

[9]

一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P].

单翀 ;

夏兰 ;

冯伟 ;

李福建 ;

赵晓晖 ;

饶大幸 ;

崔勇 ;

季来林 ;

高妍琦 ;

赵元安 ;

刘晓凤 .

中国专利 :CN114486190B ,2024-07-16

[10]

一种基于偏振成像的光学元件损伤检测装置及方法 [P].

赵发财 ;

孙权社 ;

王少水 ;

王国权 ;

郑祥亮 ;

韩忠 .

中国专利 :CN106442538A ,2017-02-22

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